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常见问题

  • 打开Lot Bin Summary模板,为什么Lot yield比pass Bin percent高?

  • Analysis界面中,最小化的窗口去哪里找出来?

  • 如何exclude data?

  • 数据删除后,依然可以查看该数据

  • 选取几个lot的几片wafer时,需要手动从大量数据中筛选,如果一个产品的数据量太大,lot select界面只能容纳1000条记录,要怎么选择我需要的数据?

  • 刚上传的数据,我找不到了,这些数据在哪?

  • 我刚上传的数据错了,怎么删除?

  • 上传STDF文件也会报错?

  • Bin Wafer Map和Bin Wafer Map (HW)有什么区别?

  • 选取数据并进行Data Extract后,raw data=0?

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