“Yield D0 Die Calculator”可让您根据良率计算Poisson D0和BE-DD，并轻松在Poisson D0和BE-DD之间进行转换。

“Die and Wafer Count Calculator” 使您可以快速计算出晶圆上的die数总量，以及在给定的缺陷密度（Poisson D0）下，每个月需要启动的wafer数量，以达到每月良好芯片的产量目标。

*本文的应用程序按“原样”提供。 PDF Solutions对这些应用程序的准确性，完整性或性能不做任何明示或暗示的保证。